一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置[实用新型专利]

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专利名称：一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置专利类型：实用新型专利发明人：曹宇,周建民,吴兵,王利申请号：CN201220205305.2申请日：20120509公开号：CN202614629U公开日：20121219

摘要：本实用新型公开一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置，包括一个容器及置入所述容器内的搅拌器，其特征在于，所述容器内安装有内置磁棒的金属套筒，所述金属套筒自容器进料口垂直插入，金属套筒的底部封闭，顶部敞口，所述磁棒自金属套筒的顶部敞口插入，所述磁棒为钕铁硼磁铁，所述金属套筒为不锈钢套筒；本实用新型利用强磁棒的磁场将硅微粉中的磁性杂质吸附到不锈钢套筒外壁，取出不锈钢套筒，收集附着的磁性杂质，经多次收集至无磁性杂质吸附，将收集到的磁性杂质烘干后称重，得出硅微粉中磁性杂质的含量。

申请人：蚌埠中凯电子材料有限公司

地址：233000 安徽省蚌埠市龙子湖区龙锦路东侧(凯盛新材料科技产业园内)

国籍：CN

代理机构：安徽省蚌埠博源专利商标事务所

代理人：倪波

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