一种碳化硅复合材料中杂质元素含量的测定方法[发明专利]

来源：飒榕旅游知识分享网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种碳化硅复合材料中杂质元素含量的测定方法专利类型：发明专利

发明人：张壮伟,陈艳宏,杨永明申请号：CN2016111388.5申请日：20161212公开号：CN106596701A公开日：20170426

摘要：本发明属于化学检测方法技术领域，具体涉及到采用等离子体质谱法对碳化硅中铝、镁等18种杂质元素含量进行测定的方法。包括以下步骤：(1)确定试样中杂质元素；(2)破碎筛选；(3)超声清洗；(4)冷却、过滤；(5)制备试样溶液；(6)配制工作标准溶液；(7)准备内标溶液；(8)在电感耦合等离子体质谱仪上依次测定工作标准溶液、空白溶液、试料溶液，测定时持续引入内标溶液，用标准曲线法测定各待测元素的含量。本发明成功建立了碳化硅中18种杂质元素含量的检测方法，利用发明内容中列举的实验条件可以精确测定碳化硅中杂质元素含量，解决了生产中急需的碳化硅中杂质含量测定工作，满足了碳化硅中杂质元素含量检测的需求。

申请人：中核北方核燃料元件有限公司

地址：014035 内蒙古自治区包头市青山区456信箱科技处

国籍：CN

代理机构：核工业专利中心

代理人：张雅丁

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容

查看全文