专利名称:氮化镓系化合物半导体的制造方法和半导体发光元
件
专利类型:发明专利
发明人:加藤亮,藤金正树,井上彰,横川俊哉申请号:CN2009801565.5申请日:20091021公开号:CN102318039A公开日:20120111
摘要:本发明是一种通过有机金属化学气相沉积法而使发光峰值波长为500nm以上的m面InGaN层生长的氮化镓系化合物半导体的制造方法。首先,进行将反应室内的基板加热的工序(A)。其次,进行将含有In气源、Ga气源和N气源的气体供给到所述反应室内,以700℃~775℃的生长温度,使由InGaN结晶构成的m面InGaN层在所述基板上生长的工序(B)。在所述工序(B)中,将所述m面InGaN层的生长速度设定在4.5nm/分~10nm/分的范围内。
申请人:松下电器产业株式会社
地址:日本大阪府
国籍:JP
代理机构:中科专利商标代理有限责任公司
代理人:汪惠民
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