专利名称：一种辉光放电光谱仪测定铝材表面氧化膜质量的方
法
专利类型：发明专利
发明人：高崇,赵丕植,黄瑞银,江钟宇,苏玉龙,李英东申请号：CN201711283400.8申请日：20171207公开号：CN108107035A公开日：20180601
摘要：本发明提出了一种辉光放电光谱仪测定铝材表面氧化膜质量的方法，通过设定辉光放电光谱仪的工作条件，对铝材表面氧化膜进行由表及里的辉光放电光谱检测，获得由表层氧化膜到铝基材的元素分布图，由于氧化膜结构的差异导致其成分分布和表面不同，所以可以根据氧化膜中元素分布的特点，判断氧化膜质量是否合格。氧化膜内元素Al、O、S由表及里的分布发生激增或者骤降，则氧化膜质量不合格；氧化膜内元素Al、O、S由表及里的分布变化稳定，则氧化膜质量合格。
申请人：中铝材料应用研究院有限公司,中铝瑞闽股份有限公司
地址：102209 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区
国籍：CN
代理机构：中国有色金属工业专利中心
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