高度计内校说明
1.0高度计概述
SJ200系列高度计是是针对众多工业应用领域及检测机构进行设计的大量程、高精度的测量设备。本仪器采用高精度进口光栅作为测量基准，遵循阿贝原则，按照机械稳定性和热稳定性最好的原则设计而成，因此具有测量精度高、性能稳定、重复性好等特点。
SJ200系列高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域，对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。
2.0高度计结构原理
SJ200系列高度计包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。
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SJ200系列高度计采用高精度光栅，即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准，所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感，并具有确定的稳定特性。
增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距，从而确保一个信号周期内微小位置误差。
3.0校准要求
3.1环境要求：室温(20℃-25℃)，相对湿度：45%-75%RH条件下进行饺准。 3.2内部校准周期：半年/次
5.3所需设备：校准量块，支架。 4.0校准程序
4.1校准前准备工作
4.1.1按照ESD防护要求做好静电放电防护准备，接触标准量块需带手套，检
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查室内环境是介达到3.1要求，待校设备外观、按键、显示屏完好。 4.1.2将高度计归零（如无法归零需记录差值）。
4.1.3分别将1mm．10mm．30mm的标准量块叠放在一起（确保支架底面平整无 杂物）
4.2校准步骤
4.2.1把叠加在一起的量块放到高度计测杆下面，读取高度计读数（记为读数1）。 4.2.2分别将1mm、10mm、30mm量块抽出，抽出后分别记录高度计读数（记为 读数2、3、4）。
4.2.3用“读数1”减去读数“2、3、4”所得值即为测量值，分别应为标准量块值 ( 1mm，10mm，30mm)
4.2.4误差≤10um为合格。
4.3校准完毕后若合格则贴上校准合格证,若此校准不合格，则贴上设备禁用证，若经修理后仍无法校验合格，则按照相关流程进行报废。
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