专利名称：用于缺陷检测的方法和装置专利类型：发明专利发明人：D-C·博代亚,P·昂普申请号：CN200980139186.6申请日：20090902公开号：CN102187211A公开日：20110914
摘要：一种用来检测薄膜制品(20)当中的缺陷的系统，包括：连接至电源(14)的发射极探测器(10)，所述探测器(10)能够插入到所述制品(20)的腔体当中；传感器(15)，该传感器(15)用来接收来自所述探测器(10)的放电；输送机系统，该输送机系统用于使得所述探测器和传感器互相接近；处理器，该处理器用来测量所述探测器和传感器之间的电位差，所述处理器能够基于所述测量而检测缺陷。
申请人：TGT企业有限公司
地址：中国香港
国籍：CN
代理机构：北京戈程知识产权代理有限公司
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