专利名称:一种用于多点测量的数显高度测量装置专利类型:发明专利发明人:柳兆学,盛加锋申请号:CN201610065850.9申请日:20160129公开号:CN107024188A公开日:20170808
摘要:本发明涉及一种用于多点测量的数显高度测量装置,包括底座(1)、支架(2)和测量机构,所述的支架(2)垂直于底座(1)设置,所述的测量机构固定于支架(2)上,其特征在于,所述的测量机构包括调节杆(3)、滑动杆(4)、测量探针(5)和数据处理显示单元(6),所述的调节杆(3)平行于底座(1)设置,其端部设有活动套接在支架(2)上的套接部,所述的滑动杆(4)平行于底座(1)设置,其一端滑动连接调节杆(3),所述的测量探针(5)垂直与底座(1)并连接滑动杆(4),所述的数据处理显示单元(6)连接测量探针(5)。与现有技术相比,本发明具有结构简单、实用方便、工作效率高等优点。
申请人:上海庆良电子有限公司
地址:201806 上海市嘉定区外冈镇宝钱公路5888弄18号3幢
国籍:CN
代理机构:上海科盛知识产权代理有限公司
代理人:宣慧兰
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