测定光谱仪中杂散光比率的方法及装置[发明专利]

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专利名称：测定光谱仪中杂散光比率的方法及装置专利类型：发明专利发明人：叶华俊,刘立鹏申请号：CN200810162508.6申请日：20081119公开号：CN101413825A公开日：20090422

摘要：本发明公开了一种测定光谱仪中杂散光比率的方法，具体为：a.使用特定光纤和透过光纤连接光源与被测光谱仪，从而分别得到特定光谱和透过光谱；所述光源与被测光谱仪的工作波段相匹配，所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光透明，所述特定波长处于所述工作波段内；b.比较所述特定光谱和透过光谱，得到被测光谱仪在所述特定波长处的杂散光比率。本发明还公开了一种用于实施上述方法的装置。本发明具有方法设计合理，能有效、快速的测定杂散光比率，无毒、无污染，可测定波段多，稳定方便的优点，可广泛应用于光谱仪性能的检测中。

申请人：聚光科技(杭州)有限公司,北京聚光世达科技有限公司

地址：310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号

国籍：CN

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