专利名称:一种接口测试方法及装置专利类型:发明专利发明人:刘成健
申请号:CN201811286831.4申请日:20181031公开号:CN111124870A公开日:20200508
摘要:本申请公开了一种接口测试方法及装置。一种接口测试方法,包括:获取测试用例、测试数据及测试断言;其中,所述测试断言是根据对被测接口进行测试的测试需求而设定的断言;将所述测试用例中的输入数据和所述测试数据输入所述被测接口,得到接口返回数据;将所述接口返回数据解析成接口测试程序可以识别的数据结构形式;通过判断所述接口返回数据与所述测试用例是否符合所述测试断言所规定的数据关系,得到测试结果。上述接口测试方法可以使接口测试更切合测试需求,使接口测试更准确,从而有效避免由于测试断言设置不合理造成测试不准确的现象。
申请人:北京国双科技有限公司
地址:100083 北京市海淀区北四环中路229号海泰大厦4层南401号
国籍:CN
代理机构:北京集佳知识产权代理有限公司
代理人:王宝筠
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