专利名称:铈掺杂的单分子层二硫化钨薄膜及其制备方法专利类型:发明专利
发明人:刘红军,张福强,苏少凯,景芳丽,杨栋程,任彩霞申请号:CN201911101854.8申请日:20191112公开号:CN110668499A公开日:20200110
摘要:本发明涉及一种铈掺杂的单分子层二硫化钨薄膜及其制备方法,利用单温区CVD系统,将草酸铈和WO置于石英舟内且掺入氯化钠形成混合物,置于加热炉膛一侧边缘,将放有硫粉的石英舟置于加热炉膛外侧;关闭石英管并抽真空,载气为高纯氩气;温区将温度上升到1050~1200摄氏度并保温,在此期间不断地移动加热炉膛;以每分钟50摄氏度的降温速率退火且降至1040摄氏度并保温5~10分钟;然后自然降温,得到铈掺杂的单分子层二硫化钨薄膜。通过对实验过程相关的各类参数的控制,制备出晶体质量好、均匀的铈掺杂的单分子层二硫化钨薄膜。
申请人:天津理工大学
地址:300384 天津市西青区宾水西道391号
国籍:CN
代理机构:太原倍智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人:张宏
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