一种大面积高质量完全单层的二硫化钨的制备方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种大面积高质量完全单层的二硫化钨的制备方法专利类型：发明专利

发明人：任文才,高旸,马来鹏,马腾,成会明申请号：CN201510665056.3申请日：20151008公开号：CN106567055A公开日：20170419

摘要：本发明涉及二硫化钨领域，具体为一种大面积高质量完全单层的二硫化钨的制备方法。采用化学气相沉积技术，以对钨溶解度极低的金为生长基体，在常压下利用钨源和硫源高温下在金基体表面催化反应，自生长完全单层的二硫化钨的大尺寸单晶和大面积连续薄膜。利用常压条件下所得二硫化钨和金基体结合较弱的特点，分别采用鼓泡转移方法和鼓泡与卷对卷转移相结合的方法，在不破坏金基体的情况下将大面积完全单层的二硫化钨转移至刚性和柔性基体上。采用本发明可获得完全单层的高质量毫米级二硫化钨单晶和大面积连续薄膜，为单层二硫化钨在电子/光电子器件、自旋器件和太阳能电池、气体/光传感器、柔性薄膜电子/光电子器件等领域的应用奠定基础。

申请人：中国科学院金属研究所

地址：110016 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号

国籍：CN

代理机构：沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：张志伟

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