一种测试探头及测试设备[实用新型专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种测试探头及测试设备专利类型：实用新型专利发明人：常小幻,叶帅,兰传艳申请号：CN201820003558.9申请日：20180102公开号：CN207650244U公开日：20180724

摘要：本实用新型提供了一种测试探头及测试设备，所述测试探头包括：探头主体，所述探头主体包括相对设置的第一端和第二端，所述探头主体的第一端端面上设有用于容置所述待测元件的至少一个凹槽，所述凹槽内设有相互绝缘的至少两个导电部，所述至少两个导电部用于与所述待测元件的不同测试点位接触；以及，设置于所述探头主体上的相互绝缘的至少两根引线，每一所述引线的一端对应连接一所述导电部，另一端从所述探头主体引出。本实用新型所提供的测试探头及测试设备，能够解决现有技术中由于待测元件尺寸过小，探针测试时不易对准测试点位的问题，便于对小尺寸待测元件进行测试。

申请人：京东方科技集团股份有限公司,成都京东方光电科技有限公司

地址：100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

国籍：CN

代理机构：北京银龙知识产权代理有限公司

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