一种位姿参数测量方法、装置、系统和存储介质[发明专利]

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专利名称：一种位姿参数测量方法、装置、系统和存储介质专利类型：发明专利发明人：黄磊

申请号：CN2020106858.3申请日：20200710公开号：CN111750821A公开日：20201009

摘要：本发明实施例公开了一种位姿参数测量方法、装置、系统和存储介质。该方法包括：获取视觉传感器和被测目标的距离信息；根据距离信息确定视觉传感器的工作模式，发送工作模式信息给视觉传感器，其中，工作模式信息用于指示视觉传感器采集合作标识的面阵图像或者线阵图像；获取视觉传感器采集的面阵图像或线阵图像，根据面阵图像或线阵图像计算被测目标的位姿参数。本发明实施例通过切换视觉传感器的工作模式，计算不同工作模式下被测目标的位姿参数，实现被测目标与视觉传感器位姿参数由粗到精的高速、高精度测量。

申请人：江苏集萃智能光电系统研究所有限公司

地址：215300 江苏省苏州市昆山开发区春旭路258号东安大厦1301室

国籍：CN

代理机构：北京品源专利代理有限公司

代理人：孟金喆

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