专利名称：光学检测器结构以及在单片集成光电装置中作为反
馈控制的应用
专利类型：发明专利
发明人：大卫·佩德,卡尔潘都·夏斯特里,罗伯特·蒙哥马利,普
拉卡什·约托斯卡,威普库马·帕特尔,玛丽·纳多
申请号：CN200580035638.8申请日：20051019公开号：CN101283300A公开日：20081008
摘要：通过使用单片光电反馈装置，提供了对于基于SOI的光电系统的可靠性和使用寿命的改进，该单片光电反馈装置监控光电系统内的一个或更多个光信号，并提供电反馈信号以调整选择的光学设备的运行参数。例如，可以控制输入信号耦合方向。可选地，光学调制器、开关、滤波器或衰减器可以通过创造性单片反馈装置的功效受到闭环反馈控制。反馈装置还可以包括连接到控制电子器件的校准/查找表，以提供用于分析此系统性能的基准信号。
申请人：斯欧普迪克尔股份有限公司
地址：美国宾夕法尼亚州
国籍：US
代理机构：北京安信方达知识产权代理有限公司
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