一种获得测量光谱的方法[发明专利]

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专利名称：一种获得测量光谱的方法专利类型：发明专利发明人：贺和好,贺孝孝申请号：CN201510378261.1申请日：20150629公开号：CN105092037A公开日：20151125

摘要：本发明公开了一种获得测量光谱的方法，包括以下步骤：a、参考光经过入射狭缝、色散元件、出射狭缝后被接收，上述光路中还放置有光学平板；随着色散元件的转动，逐步得到包含相对波数信息、具有周期性的参考信号；b、提取所述参考信号中的特征点，所述特征点与所述色散元件的所处位置对应；c、测量光经过所述入射狭缝、所述色散元件、所述出射狭缝后被接收；当所述色散元件转动到所述特征点对应的色散元件所处位置时，触发测量光信号的采集，从而得到测量光强度与相对波数对应的测量光谱。本发明结构简单、性能好、定标容易。

申请人：海宁艾可炫照明电器有限公司

地址：314400 浙江省杭州市海宁市经济开发区双联路128号科创大楼612室

国籍：CN

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